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【高斯摩】日本AEMIC 電阻測(cè)試儀 AE-1136D到貨
- 發(fā)布時(shí)間2025-05-23
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通過(guò)與外部標(biāo)準(zhǔn)熱敏電阻比較，可不受溫度特性影響于室溫情況下對(duì)標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行百分比測(cè)量通過(guò)降低測(cè)量電流，可隨時(shí)消除造成重大誤差的熱電動(dòng)勢(shì)的影響低測(cè)量電力、可防止因外接脈沖造成被測(cè)量物本身造成發(fā)熱的情況可測(cè)量外部標(biāo)準(zhǔn)電阻值及被測(cè)量物的電阻值可修正外部標(biāo)準(zhǔn)電阻值誤差[±9.999%]Rs、Rx及接觸檢測(cè)功能標(biāo)準(zhǔn)配備比較器結(jié)果可由集電極開(kāi)路輸出、LED顯示以及蜂鳴器鳴聲標(biāo)準(zhǔn)配備測(cè)量電流/電壓異常...
視頻簡(jiǎn)介
通過(guò)與外部標(biāo)準(zhǔn)熱敏電阻比較，可不受溫度特性影響于室溫情況下對(duì)標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行百分比測(cè)量
通過(guò)降低測(cè)量電流，可隨時(shí)消除造成重大誤差的熱電動(dòng)勢(shì)的影響
低測(cè)量電力、可防止因外接脈沖造成被測(cè)量物本身造成發(fā)熱的情況
可測(cè)量外部標(biāo)準(zhǔn)電阻值及被測(cè)量物的電阻值
可修正外部標(biāo)準(zhǔn)電阻值誤差[±9.999%]
Rs、Rx及接觸檢測(cè)功能標(biāo)準(zhǔn)配備
比較器結(jié)果可由集電極開(kāi)路輸出、LED顯示以及蜂鳴器鳴聲
標(biāo)準(zhǔn)配備測(cè)量電流/電壓異常的檢測(cè)電路
GP-IB /RS-232C/ Centronics接口 (選購(gòu))
| 量程 | 測(cè)量范圍 | 分辨率 | 測(cè)量電流 | 測(cè)量精確度 | 顯示范圍 |
|---|---|---|---|---|---|
| 10Ω | 0.000Ω～15.000Ω | 1mΩ | 3mA | ±0.03%±2digit以內(nèi)[Slow]/5digit以內(nèi)[Fast] | 15000 |
| 100Ω | 0.00Ω～150.00Ω | 10mΩ | 1mA | – | |
| 1kΩ | 0.0000kΩ～1.5000kΩ | 100mΩ | 300μA | ±0.02%±2digit以內(nèi)[Slow] | |
| 10kΩ | 0.000kΩ～15.000kΩ | 1Ω | 100μA | /5digit以內(nèi)[Fast] | |
| 100kΩ | 0.00kΩ～150.00kΩ | 10Ω | 10μA | – | |
| 1MΩ | 0.0000MΩ～1.5000MΩ | 100Ω | 1μA | ±0.02%±3digit以內(nèi)[Slow] /6digit以內(nèi)[Fast] | |
| 5MΩ | 0.000MΩ～5.000MΩ | 1kΩ | 1μA | ±0.02%±5digit以內(nèi)[Slow] /10digit以內(nèi)[Fast] | 5000 |
| ％ | 1Ω～5MΩ | 0.01％ | 參考上記 | 參考規(guī)格書(shū) | ±50.00％ |
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